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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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冷场发射12极子球差校正透射电镜
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置
镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 分辨率达到了63pm
损伤。高稳定的镜筒和样品台整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。实现了世界zei高扫描透射像
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
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JEM-F200新概念冷场发射透射电镜
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JEM-F200自动进样透射电镜
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